半导体封装是电子制造的关键环节,它将半导体芯片封装在保护性和功能性封装中,以确保其可靠性、性能以及与电子设备的集成。这些封装充当着连接微型敏感半导体芯片和更广泛电子系统的桥梁,提供电气连接、热管理和环境保护。半导体封装技术已取得显著发展,以满足人们对更小、更快、更高效的电子设备的需求,从传统的引线封装到先进的倒装芯片、系统级封装 (SiP) 和 3D 封装。这些封装创新在智能手机、物联网设备、数据中心和汽车电子设备等各种现代应用的驱动中发挥着至关重要的作用。
一、半导体封装的历史
在半导体行业的形成期,半导体器件采用金属罐和陶瓷封装。这些封装旨在为精密的半导体芯片提供基本保护,并实现与外部电路的电气连接。然而,它们体积相对较大、笨重且功能有限。随着半导体技术的快速发展,对更小、更高效的封装解决方案的需求日益增长,以适应半导体芯片尺寸的不断缩小。这推动了双列直插式封装 (DIP) 和表面贴装封装等创新封装技术的发展。双列直插式封装无法支持高引脚数,因此需要能够容纳大量输入/输出 (IO) 的高密度互连 (HDI) 解决方案。这催生了倒装芯片封装,也称为受控塌陷芯片连接 (C4)。为了实现高集成度,设计人员在 20 世纪 70 年代左右发明了 MCM(多芯片模块)。

图1:半导体封装的历史
二、半导体封装材料
半导体封装材料在保护和互连设备的同时,确保其可靠性和性能方面发挥着至关重要的作用。
基板:基板可以是有机基板,也可以是陶瓷基板。有机基板具有良好的电绝缘性能,是一种经济高效的封装解决方案。陶瓷基板通常用于需要良好导热性的高频应用。
封装材料:封装材料保护芯片免受环境因素、湿气和机械应力的影响。环氧模塑料 (EMC) 具有良好的附着力和电气绝缘性能。然而,液晶聚合物 (LCP) 因其低介电常数和低损耗角正切,更适合高频应用。
互连材料:金线键合通常用于半导体芯片和封装之间的电气连接。无铅焊料(锡-银-铜合金)材料用于将半导体芯片连接到基板。
底部填充材料:底部填充材料用于填充半导体芯片和基板之间的间隙,以增强机械稳定性和可靠性。底部填充材料还能提高导热性,从而改善散热效果并降低过热风险。常见的材料包括环氧树脂(粘合性更佳)、聚酰亚胺(热稳定性更佳)或硅酮(机械稳定性更佳)。

图2:倒装芯片底部填充封装工艺
三、半导体封装的类型
四方扁平 封装(QFP)
四方扁平封装 (QFP) 是一种经典的半导体封装,其特点是扁平、方形或矩形,引脚从四边延伸。QFP 有多种尺寸,引脚排列成网格状。它们通常用于需要中等引脚数的集成电路 (IC)。QFP 在组装和返工过程中易于操作。
球栅阵列(BGA)
球栅阵列 (BGA) 封装的特点是封装底部布满了焊球阵列,而非引脚。这些焊球与 PCB 上的相应焊盘接触,从而增强了散热性能并降低了电气干扰的风险。BGA因其紧凑的尺寸、出色的散热能力和抗机械应力的能力,在现代电子产品中得到了广泛的应用。
芯片级封装(CSP)
芯片级封装 (CSP) 的尺寸设计几乎与其封装的半导体芯片尺寸相同,从而最大限度地减少了空间浪费。CSP 非常适合对尺寸和重量有严格要求的应用,例如移动设备和可穿戴设备。它们通常使用间距极细的焊球或铜柱进行连接。
晶圆级封装(WLP)
晶圆级封装是一种将多个半导体器件在晶圆级封装后再切割成单个芯片的技术。这种方法可以降低制造成本并提升器件性能。晶圆级封装 (WLP) 可以实现超紧凑和高密度封装,非常适合 MEMS 器件和传感器等应用。
3D IC 和堆叠封装
3D IC 封装是指将多个半导体芯片堆叠在一个封装内,并通过硅通孔 (TSV) 进行互连。这种封装技术可以实现更高的集成度、更低的信号延迟和更佳的性能。堆叠封装常用于高性能计算、显卡和内存模块等高级应用,以在节省空间的同时提升处理能力和内存容量。
四、半导体封装的关键考虑因素和主要挑战
半导体封装设计是一个复杂且不断发展的领域,在当今快速发展的技术环境中面临着各种挑战。以下是主要挑战:
小型化和集成化:根据摩尔定律,电子设备体积越来越小,功能却越来越强大。封装设计如何在保持封装性能和可靠性的同时,满足小型化和集成化的需求,变得越来越具有挑战性。
由于封装上用于元器件和互连的空间越来越小,信号完整性、功率传输和热管理等问题也面临着独特的挑战,需要创新的解决方案。
热管理:对高性能和减小整体面积的持续需求意味着 IC 的功率密度必须很高。过热会缩短 IC 的使用寿命并影响性能。封装设计旨在更好地散热,而散热器、导热片和先进的热界面材料等先进的散热解决方案对于高效散热至关重要。此外,3D 封装和集成冷却解决方案的兴起,通过提供更佳的散热途径来应对这些挑战。
先进材料与兼容性:半导体行业致力于采用具有更佳电气、机械和热性能的材料来设计封装。封装需要与硅、有机基板和焊料等其他材料进行接口,而这些材料可能具有不同的热膨胀系数 (CTE)。这些差异会在温度循环过程中产生热应力,从而可能导致封装故障。使用低 CTE 材料,例如铜钨 (CuW)、铝碳化硅 (AlSiC)、可伐合金等,可以减少热失配的影响,并提高封装的可靠性。
信号完整性和电气性能:随着数据速率和处理速度的不断提高,保持半导体封装中的信号完整性和电气性能变得越来越重要。高频信号易受干扰、串扰和阻抗失配的影响。设计人员需要考虑传输线效应、电磁干扰 (EMI) 和电源完整性等因素,以确保信号无失真或无损耗地到达目的地。
封装成本:封装成本在半导体器件总成本中占比很大。为了提高器件的竞争力,同时又能让消费者负担得起,设计公司努力在保持性能的同时降低封装成本。
环境问题:电子垃圾对环境和人类健康有害。人们一直致力于使用环保材料和可回收材料进行半导体封装。
含铅焊料曾经广泛用于半导体封装,但出于对环境的考虑,无铅焊料已成为标准。
铜通常用于各种互连,并且可以回收利用。
许多半导体封装采用塑料或聚合物材料作为封装材料、模塑料和封装结构。这些材料有时可以回收利用。
玻璃基板通常用于微机电系统(MEMS),回收玻璃可以减少半导体封装对环境的影响。
异构集成:将存储器、传感器、射频 (RF) 组件等不同技术集成到单个封装中称为异构集成。这具有诸多优势,包括提高数据传输速率、降低功耗、增强设备性能以及缩小占用空间。异构集成面临着独特的挑战,包括不同技术之间的材料兼容性问题,以及不同组件在不同功率水平下工作时产生的热点管理问题。
五、半导体封装的创新
半导体封装面临的挑战也为创新蓬勃发展提供了机遇。以下是目前一些正在使用的先进封装技术:
系统级封装 (SiP):SiP 是一种先进的半导体封装技术,它将多个异构半导体元件(例如逻辑元件(微控制器或应用处理器芯片、存储器等)、无源元件(电阻器、电容器和电感器)、存储器元件和互连(微凸块、引线键合或 TSV))集成在一个封装内。SiP 具有许多优势:
紧凑型设备:将组件集成到单个封装中可形成紧凑型设备,这对于智能手机和可穿戴设备等便携式设备尤为重要。
增强性能:SiP 最大限度地缩短了互连长度,从而减少了信号延迟,这对于高速和高频应用至关重要。
更高的功率效率:除了缩短信号互连长度外,SiP 内的电源分配网络也得到了更好的优化。这对于电池供电设备至关重要。
降低制造成本:SiP 减少了需要在电路板上组装的单个组件的数量,从而降低了总体制造成本。
扇出型晶圆级封装 (FOWLP):传统的封装方法是将单个芯片封装并安装到印刷电路板上。FOWLP 则需要将芯片重新分布并正面朝上放置在大型晶圆尺寸的基板上。这种重新分布技术可以创建紧凑、高度集成的封装,将多个芯片、无源元件和互连集成在一个结构中,其中电气连接位于芯片的有源侧,连接到基板。
FOWLP具有小型化、更高的热性能、成本效益和增强的电气性能等优势,使其成为智能手机、物联网设备、汽车电子产品和射频模块等广泛应用的热门选择。
硅通孔 (TSV) 和 3D IC 封装:硅通孔(TSV) 是 3D 集成电路中使用的一项关键技术,可实现单个封装内多个半导体芯片或层的垂直集成。TSV 是穿透硅基板的垂直互连结构,为不同层级的芯片或元件提供电气连接。
TSV 是贯穿 3D IC 堆栈中每个芯片或层的硅基板的圆柱形或垂直孔。它们内衬绝缘材料以防止电气短路,并填充铜或钨等导电材料以提供电气通路。
垂直集成技术允许多个芯片垂直堆叠,从而促进了晶体管微缩的革新。这有助于缩短互连长度,提高集成密度,同时提升功率效率。
嵌入式多芯片互连桥接 (EMIB):EMIB 是英特尔开发的一种先进半导体封装技术。EMIB 技术旨在解决在单个封装内集成异构半导体芯片的挑战。它使用横跨基板的嵌入式桥接技术,从而为集成芯片之间的数据传输提供高速、低延迟的路径。它还使用微柱等细间距互连技术在集成芯片之间建立电气连接。这通过减少信号延迟实现了高效的数据传输,并由于互连长度缩短而提高了电气性能。
总而言之,半导体封装是连接复杂的半导体芯片世界和驱动我们现代生活的多样化电子设备的重要桥梁。从早期的金属罐到3D集成的尖端发展,半导体封装改变了我们的世界,使连接我们、娱乐我们并推动我们产业发展的设备成为可能。

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