纳芯微高压半桥驱动NSD2622N:为E-mode GaN量身打造高可靠性、高集成度方案

Release time:2025-05-30
author:AMEYA360
source:纳芯微
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  纳芯微发布专为增强型GaN设计的高压半桥驱动芯片NSD2622N,该芯片集成正负压稳压电路,支持自举供电,具备高dv/dt抗扰能力和强驱动能力,可以显著简化GaN驱动电路设计,提升系统可靠性并降低系统成本。 

纳芯微高压半桥驱动NSD2622N:为E-mode GaN量身打造高可靠性、高集成度方案

  应用背景

  近年来,氮化镓高电子迁移率晶体管(GaN HEMT)凭借高开关频率、低开关损耗的显著优势,能够大幅提升电源系统的功率密度,明显优化能效表现,降低整体系统成本,在人工智能(AI)数据中心电源、微型逆变器、车载充电机(OBC)等高压大功率领域得到日益广泛的应用。

  然而,GaN器件在实际应用中仍面临诸多挑战。以增强型氮化镓(E-mode GaN)器件为例,由于导通阈值较低,在高压大功率场景,特别是硬开关工作模式下,如果驱动电路设计不当,高频、高速开关过程中极易因串扰而导致误导通现象。与此同时,适配的驱动电路设计也比较复杂,这无疑提高了GaN器件的应用门槛。

  为了加速GaN应用普及,国内外头部GaN厂家近年来推出了一些集成驱动IC的GaN功率芯片,特别是MOSFET-LIKE类型的GaN功率芯片,其封装形式可与Si MOSFET兼容,在一定程度上降低了GaN驱动电路的设计难度。但集成驱动的GaN芯片仍存在很多局限性:一方面难以满足一些客户对于差异化产品设计的需求;另一方面,在多管并联、双向开关等应用场景中并不适用,所以在诸多应用场景中仍需要分立GaN器件及相应的驱动电路。对此,纳芯微针对E-mode GaN开发专用驱动芯片NSD2622N,致力于为高压大功率场景下的GaN应用,提供高性能、高可靠性且具备成本竞争力的驱动解决方案。

  产品特性

  NSD2622N是一款专为E-mode GaN设计的高压半桥驱动芯片,该芯片内部集成了电压调节电路,可以生成5V~6.5V可配置的稳定正压,从而实现对GaN器件的可靠驱动;内部还集成了电荷泵电路,可以生成-2.5V的固定负压用于GaN可靠关断。该芯片由于将正负电源稳压电路集成到内部,因此可以支持高边输出采用自举供电方式。

  NSD2622N采用纳芯微成熟可靠的电容隔离技术,高边驱动可以支持-700V到+700V耐压,最低可承受200V/ns的SW电压变化速率,同时高低边输出具有低传输延时和较小的传输延时匹配特性,完全满足GaN高频、高速开关的需求。此外,NSD2622N高低边输出均能提供2A/-4A峰值驱动电流,足以应对各类GaN应用对驱动速度的要求,并且可用于GaN并联使用场景。NSD2622N内部还集成一颗5V固定输出的LDO,可以为数字隔离器等电路供电,以用于需要隔离的应用场景。

  NSD2622N详细参数:

  SW耐压范围:-700V~700V

  SW dv/dt抑制能力大于200V/ns

  支持5V~15V宽范围供电

  5V~6.5V可调输出正压

  -2.5V内置输出负压

  2A/4A峰值驱动电流

  典型值10ns最小输入脉宽

  典型值38ns输入输出传输延时

  典型值5ns脉宽畸变

  典型值6.5ns上升时间(1nF 负载)

  典型值6.5ns下降时间(1nF 负载)

  典型值20ns内置死区

  高边输出支持自举供电

  内置LDO固定5V输出用于数字隔离器供电

  具备欠压保护、过温保护

  工作环境温度范围:-40℃~125℃

纳芯微高压半桥驱动NSD2622N:为E-mode GaN量身打造高可靠性、高集成度方案

NSD2622N功能框图

  告别误导通风险,提供更稳定的驱动电压

  相较于普通的Si MOSFET驱动方案,E-mode GaN驱动电路设计的最大痛点是需要提供适当幅值且稳定可靠的正负压偏置。这是因为E-mode GaN驱动导通电压一般在5V~6V,而导通阈值相对较低仅1V左右,在高温下甚至更低,往往需要负压关断以避免误导通。为了给E-mode GaN提供合适的正负压偏置,一般有阻容分压和直驱两种驱动方案:

  1.阻容分压驱动方案

  这种驱动方案可以采用普通的Si MOSFET驱动芯片,如图所示,当驱动开通时,图中Cc与Ra并联后和Rb串联,将驱动供电电压(如10V)进行分压后,为GaN栅极提供6V驱动导通电压,Dz1起到钳位正压的作用;当驱动关断时,Cc电容放电为GaN栅极提供关断负压,Dz2起到钳位负压的作用。

纳芯微高压半桥驱动NSD2622N:为E-mode GaN量身打造高可靠性、高集成度方案

阻容分压驱动方案

  以上阻容分压电路尽管对驱动芯片要求不高,但由于驱动回路元器件数量较多,容易引入额外寄生电感,会影响GaN在高频下的开关性能。此外,由于阻容分压电路的关断负压来自于电容Cc放电,关断负压并不可靠。

  如以下半桥demo板实测波形所示,在启机阶段(图中T1)由于电容Cc还没有充电,负压无法建立,所以此时是零压关断;在驱动芯片发波后的负压关断期间(图中T2),负压幅值随电容放电波动;在长时间关断时(图中T3),电容负压无法维持,逐渐放电到零伏。因此,阻容分压电路往往用于对可靠性要求相对较低的中小功率电源应用,对于大功率电源系统并不适用。

纳芯微高压半桥驱动NSD2622N:为E-mode GaN量身打造高可靠性、高集成度方案

E-mdoe GaN采用阻容分压驱动电路波形

(CH2为驱动供电,CH3为GaN栅源电压)

  2.直驱式驱动方案

  直驱式驱动方案首先需要选取合适欠压点的驱动芯片,如NSI6602VD,专为驱动E-mode GaN设计了4V UVLO阈值,再配合外部正负电源稳压电路,就可以直接驱动E-mode GaN。

  这种直驱式驱动电路在辅助电源正常工作时,各种工况下都可以为GaN提供可靠的关断负压,因此被广泛使用在各类高压大功率GaN应用场景。

  纳芯微开发的新一代GaN驱动NSD2622N则直接将正负稳压电源集成在芯片内部,如以下半桥demo板实测波形所示,NSD2622N关断负压的幅值、维持时间不受工况影响,在启机阶段(图中T1)驱动发波前负压即建立起来;在GaN关断期间(图中T2),负压幅值稳定;在驱动芯片长时间不发波时(图中T3),负压仍然稳定可靠。

纳芯微高压半桥驱动NSD2622N:为E-mode GaN量身打造高可靠性、高集成度方案

E-mode GaN采用NSD2622N驱动电路波形

(CH2为低边GaN Vds,CH3为低边GaN Vgs)

  简化电路设计,降低系统成本

  NSD2622N不仅可以通过直驱方式稳定、可靠驱动GaN,最为重要的是,NSD2622N通过内部集成正负稳压电源,显著减少了外围电路元器件数量,并且采用自举供电方式,极大简化了驱动芯片的供电电路设计并降低系统成本。

  以3kW PSU为例,假设两相交错TTP PFC和全桥LLC均采用GaN器件,对两种直驱电路方案的复杂度进行对比:

  如果采用NSI6602VD驱动方案,需要配合相应的隔离电源电路与正负电源稳压电路,意味着每一路半桥的高边驱动都需要一路独立的隔离供电,所以隔离辅助电源的设计较为复杂。鉴于GaN驱动对供电质量要求较高,且PFC和LLC的主功率回路通常分别放置在独立板卡上,因此,往往需要采用两级辅助电源架构,第一级使用宽输入电压范围的器件如flyback生成稳压轨,第二级可以采用开环全桥拓扑提供隔离电源,并进一步稳压生成NSI6602VD所需的正负供电电源,以下为典型供电架构:

纳芯微高压半桥驱动NSD2622N:为E-mode GaN量身打造高可靠性、高集成度方案

NSI6602VD驱动方案典型供电架构

  如果采用NSD2622N驱动方案,则可以直接通过自举供电的方式来简化辅助电源设计,以下为典型供电架构:

纳芯微高压半桥驱动NSD2622N:为E-mode GaN量身打造高可靠性、高集成度方案

NSD2622N驱动方案典型供电架构

  将以上两种GaN直驱方案的驱动及供电电路BOM进行对比并汇总在下表,可以看到NSD2622N由于可以采用自举供电,和NSI6602VD的隔离供电方案相比极大减少了整体元器件数量,并降低系统成本;即使采用隔离供电方式,NSD2622N由于内部集成正负稳压电源,相比NSI6602VD外围电路更简化,因此整体元器件数量也更少,系统成本更低。

纳芯微高压半桥驱动NSD2622N:为E-mode GaN量身打造高可靠性、高集成度方案

GaN直驱方案的驱动及供电电路BOM对比

  适配多种类型GaN,驱动电压灵活调节

  纳芯微开发的E-mode GaN驱动芯片NSD2622N,不仅性能强大,还能够适配不同品牌、不同类型(例如电压型和电流型)以及不同耐压等级的GaN器件。举例来说,NSD2622N的输出电压通过反馈电阻可以设定5V~6.5V的驱动电压。这样一来,在搭配不同品牌的GaN时,仅仅通过调节反馈电阻就可以根据GaN特性设定最合适的驱动电压,使不同品牌的GaN都能工作在最优效率点。

  除此之外,NSD2622N具备最低200V/ns的SW节点dv/dt抑制能力,提升了GaN开关速度上限;采用更为紧凑的QFN封装以及提供独立的开通、关断输出引脚,从而进一步减小驱动回路并降低寄生电感;提供过温保护功能,使GaN应用更安全。

  纳芯微还可提供单通道GaN驱动芯片NSD2012N,采用3mm*3mm QFN封装,并增加了负压调节功能,从而满足更多个性化应用需求。


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高性价比:纳芯微推出面向RS485通信隔离的三通道数字隔离器SP301H/L系列
  纳芯微宣布推出基于其自研的第三代电容隔离技术的三通道数字隔离器——SP301H/L系列。作为面向RS485通信隔离应用打造的新一代产品,SP301H/L在传输速率、功耗表现、抗干扰能力及封装尺寸等方面实现全面升级。  相比前代SP301A及NIRS31系列产品,SP301H/L支持最高8Mbps通信速率,采用低静态功耗设计,并进一步优化电磁抗扰性能;小巧紧凑的SSOW10密脚宽体封装,在提升集成度的同时有效节省PCB空间,为客户提供兼具高性能、高可靠性与高性价比的隔离解决方案。  RS485通信因其传输距离远、抗干扰能力强、多节点组网灵活等优势,被广泛应用于电力终端设备、工业自动化控制、新能源储能系统等场景。在这些应用中,隔离器件是保障通信稳定性和系统安全性的关键环节。传统的RS485通信隔离中,三路光耦的隔离方案存在器件数量多、速率受限、易老化漂移及占板面积大等问题,难以满足高速通信、长寿命和小型化需求。随着系统性能要求不断提升,数字隔离正成为RS485通信隔离方案的重要发展方向。  高性价比:  单芯片替代三路光耦,简化设计降本增效  传统隔离RS485通信方案通常需要3颗光耦隔离器及多颗外围阻容器件,不仅BOM复杂、采购管理成本较高,还占用大量PCB空间。  SP301H/L通过单芯片集成三路隔离通道,可直接替代分立光耦及外围器件,在显著简化BOM清单的同时,减少器件数量与布线复杂度,提升整体方案集成度。  此外,SP301H/L采用紧凑型SSOW10密脚宽体封装,相比传统光耦方案可节省超过60%的PCB占板面积,进一步释放板级空间资源。  三路光耦隔离方案和SP301H/L的尺寸对比  性能方面,SP301H/L数据通道支持最高8Mbps通信速率,使能控制通道支持最高1Mbps,有效突破传统光耦方案的带宽瓶颈,满足智能电表、工业现场总线等应用对高速通信和低时延传输的需求;方案适配方面,SP301H使能引脚默认高电平,SP301L使能引脚默认低电平,可灵活满足不同软件方案中MCU的使能逻辑需求。  同时,芯片采用低静态功耗设计,适用于电池供电及现场仪表等对功耗敏感的应用场景,并且支持-40℃~125℃的环境工作温度,充分满足工业应用需求。凭借高集成度、小尺寸封装、优异的性能及精简的外围设计,SP301H/L能够更好地满足智能电表等设备对小型化、轻量化和高可靠性的设计需求,实现光耦方案的无缝升级替换。  高可靠性:  抗扰能力全方位提升,保障通信稳定运行  以智能电表应用为例,其通常部署于复杂电磁环境中,通信链路需要承受电网浪涌、开关噪声及长距离布线带来的各类干扰挑战。  SP301H/L通过优化隔离架构与抗扰设计,有效提升RS485通信链路的电磁抗扰(EMS)能力,降低通信误码率和掉线风险,保障电表数据传输的稳定性与可靠性。相较于前代SP301A及NIRS31系列,SP301H/L在电磁抗扰方面表现更为出色:  EOS性能提升约10%,Latch up电压达到10V以上,显著增强器件对电源过应力的耐受能力,有效避免因电源异常波动导致的损坏,延长系统运行寿命。  电源噪声抗扰性优异:在MHz级高频和大电压幅值的系统噪声干扰下,芯片仍能保持正常输出且无误码,进一步提升系统在复杂电磁环境下的可靠性。  共模瞬态抗扰度(CMTI)典型值高达200kV/μs,能够有效抵抗共模瞬态干扰,确保信号传输的准确性与稳定性。  此外,SP301H/L系列基于纳芯微领先的第三代电容隔离技术打造,具备卓越的隔离耐压能力:可达5kVrms(1分钟),并能够承受超过10kV的浪涌电压,满足增强绝缘要求。SP301H/L系列现已量产,可登录纳芯微官网进行样品申请。  丰富的“隔离+”产品  引领隔离芯片标杆  凭借在隔离技术方面的积累和领先优势,纳芯微提供涵盖数字隔离器、隔离采样、隔离接口、隔离电源、隔离驱动等一系列“隔离+”产品,以全生态“隔离+”产品矩阵,为高压系统筑造安全可靠的防线:  “+”代表增强安全:纳芯微“隔离+”产品提供超越基本隔离标准的安全等级,为客户系统构筑更坚固的高低压安全边界。  “+”代表全产品生态:纳芯微以成熟的电容隔离技术IP为核心,拓展出包括数字隔离器、隔离采样、隔离接口、隔离电源、隔离驱动等完整产品组合,为客户提供隔离器件的一站式解决方案。  “+”代表深度赋能应用:纳芯微“隔离+”产品可满足电动汽车高压平台、大功率光储充系统,以及高集成、高效率AI服务器电源等场景的核心需求,实现系统级安全、可靠与高效。  截至2025年,纳芯微隔离相关芯片已累计出货超27亿颗,作为全球领先的隔离芯片供应商,纳芯微致力于通过全面的“隔离+”产品布局,以核心技术IP和全产品生态,引领隔离芯片标杆,为全球客户提供一站式的隔离芯片解决方案。
2026-06-18 10:04 reading:287
第九届纳芯微技术大会圆满落幕,创新回响持续激荡!
  近日,第九届纳芯微技术大会 (NOVOSENSE Technology Conference,简称 NTC) 在上海举办。作为纳芯微一年一度的重要技术交流活动,本届大会吸引近 700 位研发与技术人员参与,共征集技术投稿 155 篇,规模创历届新高。  自 2018 年首届举办以来,NTC 历经九届沉淀。从最初的小型交流活动,逐步发展成为覆盖芯片设计、工艺开发、工程制造、系统架构、应用创新等多个技术领域的重要技术平台,也成为纳芯微工程师文化的重要载体之一。  今年 NTC 继续以“Innovation · Share · Lead” (创新、分享、引领)为使命,通过技术分享及研讨、Demo Show、特邀报告及 AI 创新赛事等多种形式,鼓励工程师分享经验、交流思想、探索前沿技术方向,持续营造开放创新的技术氛围。  01  创新驱动成长:  市场驱动迈向技术与市场双轮驱动  大会开幕式上,纳芯微 CTO 盛云表示,随着智能化、低碳化的持续演进,以及 AI 算力基础设施和机器人等新兴应用的快速发展,模拟与混合信号芯片产业正迎来新一轮创新机遇。客户对于差异化解决方案的需求不断提升,也对芯片企业的技术创新能力提出更高要求。  他指出:“纳芯微需要通过技术和产品创新持续提升产品竞争力和客户价值。从主要依靠市场驱动,逐步走向技术与市场双轮驱动,既要坚持以客户为中心,也要重视以技术为中心。”  盛云认为,无论是产品定义、工艺开发、电路设计还是工程实现,模拟芯片领域仍然存在广阔的创新空间。持续创新不仅是企业发展的重要动力,也是构建长期竞争力的重要基础。  02  专家引领创新,  持续夯实技术能力建设  近年来,纳芯微深耕技术能力建设,不断完善创新平台与人才发展机制,推动核心技术能力长期积累与传承。  目前,公司已建立覆盖多个专业领域的专家体系,并完成技术专家评审与认定,进一步畅通专业人才发展通道。大会期间还举行了第二届专家委员会成员聘任仪式。盛云表示:“专家不仅是技术体系的支柱,也是知识传承和人才培养的重要力量。”他同时透露,未来纳芯微将持续完善技术创新机制,将创新能力建设进一步融入产品定义、技术预研及研发流程管理中,为工程师创造更加开放高效的创新环境。  03  AI 创新实践首次亮相 NTC  与往届相比,AI 成为本届 NTC 最受关注的新议题。随着大模型和 AI Agent 技术快速发展,人工智能正在从辅助工具逐步走向复杂任务执行和自主协同的新阶段。面对这一趋势,纳芯微首次将 AGI 二次开发大赛纳入 NTC 整体议程,旨在推动 AI 技术与实际业务场景深度融合。  本次大赛自 4 月启动以来,吸引了来自多个技术领域和业务团队的踊跃参与。参赛项目聚焦研发、工程和业务运营等实际场景,围绕效率提升、流程优化、知识沉淀与智能辅助等方向展开探索,充分展现了工程师将前沿 AI 技术转化为实际生产力的创新能力。  盛云在致辞中表示:“对于公司和工程师个人而言,最好的选择是积极拥抱变化。”他希望通过 AI 大赛激发全员探索热情,为未来 AI 能力建设和业务应用落地奠定基础。  04  Demo Show:  从创意灵感走向应用落地  除了精彩纷呈的理论分享,纳芯微 Demo Show 为各类创新灵感提供落地实践载体。从最初的创意萌芽、严苛的初审入围,到精细的实物制作,再到 NTC 现场的惊艳亮相——生动展现了工程师们对前沿技术的实践转化。  05  让热爱同行,  共享荣耀时刻  两天精彩的技术研讨与成果展示后,本届大会特别举办了“芯光无界”工程师晚宴。在晚宴现场,大会表彰了在技术创新、Demo Show 及专家评选中表现突出的团队与个人,并特设拍照打卡区定格一个个值得纪念的瞬间。来自不同领域的工程师们因技术相聚、因创新共鸣,在交流与分享中碰撞灵感,也让属于纳芯微的工程师文化更加深入人心。  历届 NTC 见证着纳芯微技术底蕴的延续与沉淀,也记录着工程师们对创新与卓越的不懈追求。正如盛云在大会总结中所说:“以卓越之心,铸创新之芯,乘 AI 之势,聚专家之力。”  面向未来,纳芯微将继续坚持技术创新,拥抱 AI 带来的变革,与更多工程师共同探索技术边界,为客户创造更大价值。
2026-06-17 09:29 reading:241
纳芯微推出通过IBEE/FTZ-Zwickau EMC认证最高Class III等级、全国产化的CAN收发器
  纳芯微宣布推出全国产化供应链的汽车级CAN收发器芯片NCA1043D-Q1,新器件凭借业内领先的抗干扰特性,在欧洲权威测试机构IBEE/FTZ-Zwickau的EMC认证中,实现无特殊条件备注、全测试项通过最高Class III等级。  NCA1043D-Q1同时满足大众集团VW80121-3,2023-12标准,纳芯微现可提供相关测试报告,支持汽车制造商简化系统认证流程,加速产品上市。  CAN收发器是整车系统通信链路上的核心器件,通信过程中任何EMC问题带来的扰动都可能演变为整车系统的功能异常,因此车厂和Tier 1通常将CAN收发器视为EMC设计和验证的重点器件之一。尤其在800V高压平台、SiC功率器件和复合材料电池包逐渐普及后,CAN收发器的EMC性能已经成为影响整车开发周期和系统可靠性的重要因素。  纳芯微NCA1043D-Q1全部通过四项测试  全面通过最高Class III等级测试  简化系统设计  IBEE/FTZ-Zwickau认证根据IEC 62228-3标准进行,测试项包括:发射射频干扰(Emission RF Disturbances), 抗射频干扰(Immunity RF Disturbances),瞬变免疫力(Immunity Transients)和抗静电(Immunity ESD),纳芯微NCA1043D-Q1在测试中表现优异,各种条件下均能通过器件最高Class III等级,以优异的EMC性能助力用户简化系统设计,加速产品开发和上市。  NCA1043D-Q1的相关测试项全部通过最高Class III等级  支持振铃抑制功能  满足复杂拓扑和提速需求  NCA1043D-Q1采用纳芯微自研的振铃抑制专利,允许工程师在多节点、复杂拓扑情况下有效减少总线中的信号反射,降低振铃现象发生的概率,同时维持系统级≤5Mbps的通信传输速率,使得用户可以在部分应用场景中采用性价比更高的CAN FD而非CAN SIC芯片,在保障车载通信质量的同时,降低物料成本。  全国产供应链加持  提升交付效率与供应韧性  NCA1043D-Q1在芯片设计、晶圆制造、封装测试等关键环节均实现国产化布局,构建了自主可控的全国产供应链体系。在保障供应安全与稳定供货能力的同时,依托本土产业链协同优势,有效缩短交付周期、提升响应速度,并降低综合供应链成本,为客户提供更具确定性和竞争力的供应保障。  封装和选型  NCA1043D-Q1将于近期量产,提供SOP14和DFN14两种封装,支持低至1.8V的VIO和睡眠模式唤醒;NCA1043D-Q1满足AEC-Q100,Grade 1要求,支持-40°C~125°C的宽工作温度范围。可通过纳芯微官网进行样片申请。  平台化接口IP  赋能全面产品布局  纳芯微在通信接口领域布局已久,通过平台化IP和自研专利的协同,实现了快速的产品迭代,并且在CAN/LIN/RS485/I2C/I3C/SerDes接口等方面完成了全面的产品布局。技术层面,纳芯微在EMC增强的CAN/LIN接口技术、专有协议接口技术、高速接口技术等方面不断突破,达到业内领先的水平。  以EMC为例,纳芯微全面通过IBEE/FTZ-Zwickau的EMC认证的器件还包括CAN FD收发器NCA1044-Q1,NCA1057-Q1,NCA1145B-Q1以及CAN SIC收发器NCA1462-Q1;其中NCA1044-Q1和NCA1462-Q1亦通过日本VeLIO认证,相关器件均已量产,欢迎垂询。
2026-06-10 10:19 reading:379
纳芯微丨低资源占用、快速切换:单 Bank Flash MCU 在线升级方案解析
  随着智能产品进入规模化应用,现场固件更新能力已成为产品持续迭代的重要支撑。对于 MCU 系统而言,固件升级不仅要完成新版本程序写入,还需尽量降低升级过程对设备运行状态和用户使用体验的影响。  针对单 Bank Flash MCU 平台,本文提出一种不断电固件升级方案,通过软件架构设计实现安全、快速、用户低感知的现场固件更新,为单 Bank Flash MCU 提供在线升级能力。  01 方案背景  目前,MCU 常见固件升级方式包括 IAP(In Application Programming)、ISP(In System Programming)、双 Bank 升级、OTF(On The Fly)、LFU(Live Firmware Update)以及 LiveUpdate 等。其中,不断电升级通常要求系统在升级过程中保持业务运行,不依赖设备重启,并实现新旧固件的平稳切换。  现阶段,OTF 和 LFU 是较为常见的不断电升级方案,但通常依赖 MCU 具备双 Bank 架构的 Flash 存储器。而在实际应用中,单 Bank Flash MCU 仍然占据较大存量。由于单 Bank Flash 不具备动态 Bank 切换能力,如何在不依赖双 Bank Flash 架构的前提下,实现无停机、无复位、业务连续的现场固件升级,成为单 Bank Flash MCU 在线升级设计中的关键问题。  02 系统架构与核心技术点  由于单 Bank 架构的 Flash 不具备动态切换 Bank 或启动时自动切换 Bank 的功能,因此需增加 Bootload 程序,负责系统引导、启动选择及运行环境构建。Bootload 支持烧录 App 固件、读取 App 信息区、并为 App 区配置运行环境。  这种架构可支持多个 App 区,每个 App 区均设有独立的信息区。信息区用于存储对应固件分区的关键参数,包括加载地址(LoadAddress)、运行地址(RunAddress)、代码长度(Length)以及中断初始化程序等必要信息。  整体方案的组成框架如图 1.1 所示。需要实现的关键技术包括:  ① APP 区信息的保存与动态分析;  ② 切换 APP 区时的定点切换;  ③ 在主循环内更新主循环本身。  图 1.1 单 Bank 不断电升级方案框架  03 固件分区与信息提取  Bootload 与 App 区在运行过程中需动态读取固件信息,以便为后续执行的目标代码构建运行环境。需特别说明的是,Bootload 跳转至 App 区的机制与 App 区之间的跳转机制并不相同。在本文提供的方案中,Bootload 跳转至 App 区采用传统的 IAP 跳转方式;而 App 区之间的跳转则基于固定代码区的锁定机制,以确保跳转过程的安全性。  Flash 存储器需要通过 FMC 模块与 CPU 进行通信,Flash 在执行擦除操作时需耗费一定时间,若在此期间 CPU 发起对 Flash 的读取请求,将会因为等待 FMC 完成擦除而导致阻塞。  这引入了第一个需要解决的问题—— App 区内擦除 Flash 阻塞。为避免该问题,在擦除 Flash 时应避免 CPU 同时读取 Flash,相关操作需置于 SRAM 或 ITCM 中执行。  为简化实现流程,本方案将 App 区固定运行于 SRAM 中。Bootload 在启动阶段将 App 代码从 Flash 手动拷贝至 SRAM,从而有效避免擦写冲突,确保升级过程的稳定与可靠。  App 区的分区功能使用的是 Sct 分散加载脚本功能,如程序清单 1.1 所示。  程序清单 1.1 App 区的 Sct 文件  以 App0 为例,其分区信息与作用描述如表 1.1 所示。  表 1.1 App 区的分区功能描述  固件信息区 FIRM_DROM 用于存储程序清单 1.1 中各个分区的关键参数,包括加载地址(LoadAddress)、运行地址(RunAddress)、代码长度,以及用户自定义和其他辅助信息。这些信息通过编译器自动生成的全局环境变量进行记录,具体声明方式如程序清单 1.2 所示。  程序清单1.2 分区信息保存方法  清楚如何将 Load 地址拷贝到 Image 、和复制长度,即可动态搭建不同固件的运行环境。  04 固定代码区  堆栈污染防护机制  在 C 程序运行过程中,堆(Heap)用于程序源动态申请和释放临时变量,而栈(Stack)则用于在子函数调用或中断触发时保存临时变量、返回地址等上下文信息,通过“进栈-出栈”机制实现函数调用链的正确返回与运行环境恢复。  基于上述机制,引入本方案需解决第二个关键问题——App区相互跳转前后,堆栈中保存的返回地址与新固件无法对接,即“堆栈污染”问题。由于 App0 与 App1 区的代码随用户程序迭代而不断变化,若直接跳转极易因堆栈不一致导致系统异常。为此,方案引入固定代码区以保障跳转过程的稳定性。  固定代码区本质上位于 main() 函数内的主循环(如 while(1) )中。该循环具备一个重要特性:所有子函数执行完毕后均会返回至主循环入口,中断服务程序执行完毕后也同样返回到此位置。根据堆栈行为特点,当程序运行于主循环内部时,堆栈中不会保留函数调用信息,此时堆栈处于“最干净”状态,从而有效避免了跳转过程中的堆栈污染问题。  要做到这点,需要将 main() 放到 FIXCODE 区域内,然后 main 内部的初始化和主循环内统一调用子函数,增减的代码都在子函数内处理,让切换 App 区执行代码不发生偏移。如程序清单 1.3 所示。  程序清单 1.3  05 运行时固定代码区更新策略  FIXCODE 本身是 main() 和主循环,里面同样包含用户层的应用代码,所以更新固件这部分也同样需要更新到最新版本。本方案需要解决第三个关键问题——程序运行期间不能被擦除,否则会导致指令读成乱码,所以在更新固定代码区的操作要放在非固定代码区,且保证执行完后能回到正确的堆栈点。  图1.2 更新固定代码区  06 中断向量表与函数分区更新实现  中断处理包括中断向量表处理和中断函数处理。中断函数通过声明中断服务函数以及其调用的子函数分配到 RW_APP0_ITCM 区,这样就可以通过分区更新功能统一更新。本方案需要重点处理中断向量表。  中断向量表涉及的方面包含以下几处地方:  ① Sct 文件内声明的 RESET 区域,如程序清单 1.1 所示;  ② SDK 包内默认的中断向量表地址,包括 Flash 中断向量表和 VT_DTCM 的中断向量表;  ③ 在切换新固件的中断部分,准备好内存空间,最后修改 VTOR;  在第二点中,SDK 内对中断向量表的操作如程序清单 1.4 所示。  程序清单 1.4 SDK 包中断表处理  代码路径:interrupt.c  VECTOR_TABLE_FLASH_ADDRESS 是指固件的头部装载地址,需要留意的是,这个表里还包含了默认处理函数句柄以及 Reset 等前面不可屏蔽的处理函数。  SDK内默认将 VECTOR_TABLE_FLASH_ADDRESS 设置为 0x08000000,对每个 APP 区必须在 interrupt.h 内改为对应地址。  程序清单 1.3 内的函数实现的主要目的,是将存放在 DTCM 空间内的 vectorTableDTCM 表重初始化。  在 App 区内的操作流程如图 1.3 所示。可看到板级初始化做的是 App 本身所占用的中断表地址,而切换则是搭建新固件的中断表地址。  07 变量偏移防护与共享内存设计  由于业务逻辑要持续运行,所以对于关键的状态变量、计数变量等需要做特殊处理。这里就提出第四个问题——由于编译器为节省空间,会将变量紧密排序,从而导致全局变量在切换到新固件时产生不可预计的偏移。简单而言就是将这类需要继承的变量,存放在 ShareMemory 空间内,并以绝对地址的形式固定下来。这种方案相较于其他依赖编译器的固定方式最直接快速。
2026-06-04 10:23 reading:484
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