


产品阵容


产品优势
(1)稳定检测
高精度距离值显示+受光状态显示+受光位置判定,可实现稳定检测
相较于传统机型,距离设定型 HG-L1000 系列检测稳定性更强,不易受工件表面状态、颜色干扰,可稳定检测黑色工件、金属、透明物体等;产品重复精度可达 0.1mm,能够精准识别微小工件的有无。
CMOS受光元件+激光光源
HG-L1000 系列采用三角反射式检测原理。设备搭载半导体激光二极管作为投光元件,激光经投光透镜会聚后射向被测物体;物体反射的部分光线再经由受光透镜,成像于 CMOS 图像传感器并形成光点。光点位置会随被测物体的位移同步变化,系统通过识别光点位置偏移,从而检测被测物体的位移量。
(2)核心算法优化
受光状态显示功能
透明体识别检测
杂散光屏蔽功能
曲亮面金属稳定检测
(3)简单易用
• 中文OLED,便于理解,设定便捷。
• 一键示教,简单操作,轻松上手。
测量模式

应用场景
HG-L1000系列可适用于多个行业的多种应用
HG-L1000 系列配备丰富的检测与示教模式,可广泛应用于 3C 电子、锂电池、半导体、汽车、液晶、木材等行业,适配小型工件、黑色物体、金属件、透明体以及透过检测等各类场景。

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| 型号 | 品牌 | 询价 |
|---|---|---|
| CDZVT2R20B | ROHM Semiconductor | |
| MC33074DR2G | onsemi | |
| TL431ACLPR | Texas Instruments | |
| BD71847AMWV-E2 | ROHM Semiconductor | |
| RB751G-40T2R | ROHM Semiconductor |
| 型号 | 品牌 | 抢购 |
|---|---|---|
| BP3621 | ROHM Semiconductor | |
| IPZ40N04S5L4R8ATMA1 | Infineon Technologies | |
| BU33JA2MNVX-CTL | ROHM Semiconductor | |
| STM32F429IGT6 | STMicroelectronics | |
| ESR03EZPJ151 | ROHM Semiconductor | |
| TPS63050YFFR | Texas Instruments |
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